Evolutionary origin of Plasmodium and other Apicomplexa based on rRNA genes.

نویسندگان
چکیده

برای دانلود رایگان متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

Evolutionary Origin of Orphan Genes

Orphangenes aregenes thatoccur in specific evolutionary lineages without similarity to genes outside of these lineages and have, therefore, alternatively been named taxonomically restricted genes. They were so far considered to emerge through duplication–divergence processes,but it isnow becomingclear that they canalso arise de novo out of noncoding deoxyribonucleic acid (DNA). This latter proc...

متن کامل

evolutionary origin and phylogenetic relationships among fusarium oxysporum f. sp. melonis isolates in iran and their relationship with nonpathogenic isolates

پژمردگی فوزاریومی خربزه و طالبی با عامل fusarium oxysporum f. sp. melonis از بیماری های مهم قارچی در مناطق رشد این گیاهان می باشد. جدایه های f. oxysporum از گیاهان و خاک ریزوسفر متعلق به پنج استان مهم تولیدکننده ی خربزه و طالبی جداسازی شد و بر پایه ی بیماری زایی در ارقام افتراقی، گروه های سازگاری رویشی (vegetative compatibility groups)، توالی سنجی ناحیه ی جداکننده ی بین ژنی دی اِن اِی ریبوزومی (n...

15 صفحه اول

study of hash functions based on chaotic maps

توابع درهم نقش بسیار مهم در سیستم های رمزنگاری و پروتکل های امنیتی دارند. در سیستم های رمزنگاری برای دستیابی به احراز درستی و اصالت داده دو روش مورد استفاده قرار می گیرند که عبارتند از توابع رمزنگاری کلیددار و توابع درهم ساز. توابع درهم ساز، توابعی هستند که هر متن با طول دلخواه را به دنباله ای با طول ثابت تبدیل می کنند. از جمله پرکاربردترین و معروف ترین توابع درهم می توان توابع درهم ساز md4, md...

application of upfc based on svpwm for power quality improvement

در سالهای اخیر،اختلالات کیفیت توان مهمترین موضوع می باشد که محققان زیادی را برای پیدا کردن راه حلی برای حل آن علاقه مند ساخته است.امروزه کیفیت توان در سیستم قدرت برای مراکز صنعتی،تجاری وکاربردهای بیمارستانی مسئله مهمی می باشد.مشکل ولتاژمثل شرایط افت ولتاژواضافه جریان ناشی از اتصال کوتاه مدار یا وقوع خطا در سیستم بیشتر مورد توجه می باشد. برای مطالعه افت ولتاژ واضافه جریان،محققان زیادی کار کرده ...

15 صفحه اول

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: Proceedings of the National Academy of Sciences

سال: 1995

ISSN: 0027-8424,1091-6490

DOI: 10.1073/pnas.92.13.5793